ATOS電磁閥復(fù)雜工況運(yùn)行中存在的問題？
    ATOS電磁閥運(yùn)行在復(fù)雜工況下，會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的腐蝕、汽蝕、沖蝕、堵卡、劃傷，對(duì)ATOS電磁閥密封面會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的破壞，致使調(diào)節(jié)閥密封不可靠，密封壽命短，成為ATOS電磁閥幾十年未攻破的頑癥。全功能超輕型調(diào)節(jié)閥突破了調(diào)節(jié)閥的笨重和功能不全問題之后，我們又致力于復(fù)雜工況密封難的突破。
    一、何謂復(fù)雜工況及其引起的問題
    1、高壓、大壓差——產(chǎn)生嚴(yán)重的沖蝕或汽蝕，影響密封壽命。
    2、高溫、大溫差——嚴(yán)重的熱脹冷縮改變了在常溫下裝配的配合性質(zhì)，造成泄漏，嚴(yán)重時(shí)堵卡，使動(dòng)作困難，甚至被“卡死”。
    3、不干凈介質(zhì)——造成嚴(yán)重的沖蝕、堵卡，芯座劃傷，影響動(dòng)作和密封。
    4、腐蝕介質(zhì)——使接觸材質(zhì)造成腐蝕破壞。
    5、Ⅵ級(jí)硬密封切斷——尤其是大壓差切斷，芯、座必須關(guān)得緊，在打開的瞬間，密封面產(chǎn)生摩擦而被拉傷。 綜上所述：在上面提到的產(chǎn)生嚴(yán)重的汽蝕、沖蝕、腐蝕、膨脹收縮、堵卡、劃傷等惡劣工作環(huán)境下，Ⅵ級(jí)硬密封切斷更是難上加難，成為ATOS電磁閥幾十年來未攻破的頑癥。
    二、傳統(tǒng)密封結(jié)構(gòu)可靠性分析
    1）軟密封對(duì)軟密封材質(zhì)軟——易密封，因材質(zhì)軟可靠性極差。
    2）軟密封對(duì)不銹鋼——比（1）略好，但密封仍不可靠。
    3）不銹鋼對(duì)不銹鋼——比（2）略好，但不銹鋼硬度仍很低（HRC20～25），密封仍不可靠。
    4）多層密封閥座——不銹鋼薄板與軟材料重疊使用，密封的可靠性與上述（2）（3）差不多，但耐溫性能有所提高。
    5）堆焊耐磨合金——通常堆焊SLITE合金，是目前*的密封材料。但它硬度仍不高（HRC40～45），仍不適應(yīng)復(fù)雜工況的苛刻條件。
    6）陶瓷密封——硬度*，缺乏韌性，易脆裂，甚至未用先裂。